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發(fā)布日期:2022-04-18 點(diǎn)擊率:63
來源:互聯(lián)網(wǎng) 作者:秩名2015年05月18日 11:25
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[導(dǎo)讀] 本文討論的內(nèi)容為PWM開關(guān)電源,而且僅僅是作為測試經(jīng)驗(yàn)的總結(jié),為大家簡述容易引起系統(tǒng)失效的一些因素。因此,在閱讀本文之前,已經(jīng)假定您對于開關(guān)電源有一定的了解。
關(guān)鍵詞:電源管理開關(guān)電源測試測量
電子器件的電源測量通常情況是指開關(guān)電源的測量(當(dāng)然還有線性電源)。講述開關(guān)電源的資料非常多,本文討論的內(nèi)容為PWM開關(guān)電源,而且僅僅是作為測試經(jīng)驗(yàn)的總結(jié),為大家簡述容易引起系統(tǒng)失效的一些因素。因此,在閱讀本文之前,已經(jīng)假定您對于開關(guān)電源有一定的了解。
開關(guān)電源簡述
開關(guān)電源(Switching Mode Power Supply,常常簡化為SMPS),是一種高頻電能轉(zhuǎn)換裝置。其功能是將電壓透過不同形式的架構(gòu)轉(zhuǎn)換為用戶端所需求的電壓或電流。開關(guān)電源的拓?fù)渲搁_關(guān)電源電路的構(gòu)成形式。一般是根據(jù)輸出地線與輸入地線有無電氣隔離,分為隔離及非隔離變換器。非隔離即輸入端與輸出端相通,沒有隔離措施,常見的DC/DC變換器大多是這種類型。所謂隔離是指輸入端與輸出端在電路上不是直接聯(lián)通的,使用隔離變壓器通過電磁變換方式進(jìn)行能量傳遞,輸入端和輸出端之間是完全電氣隔離的。對于開關(guān)變換器來說,只有三種基本拓?fù)湫问剑矗?Buck(降壓)、Boost(升壓)、 Buck-Boost(升降壓)三種基本拓?fù)湫问剑请姼械倪B接方式?jīng)Q定。若電感放置于輸出端,則為Buck拓?fù)?電感放置于輸入端,則是Boost拓?fù)洹.?dāng)電感連接到地時(shí),就是Buck-Boost拓?fù)洹?/p>
容易引發(fā)系統(tǒng)失效的關(guān)鍵參數(shù)測試
以下的測試項(xiàng)目除了是指在靜態(tài)負(fù)載的情況下測試的結(jié)果,只有噪聲(noise)測試需要用到動(dòng)態(tài)負(fù)載。
Phase點(diǎn)的jitter
對于典型的PWM開關(guān)電源,如果phase點(diǎn)jitter太大,通常系統(tǒng)會(huì)不穩(wěn)定(和后面提到的相位裕量相關(guān)),對于200~500K的PWM開關(guān)電源,典型的jitter值應(yīng)該在1ns以下。
Phase點(diǎn)的塌陷
有時(shí)候工程師測量到下面的波形,這是典型的電感飽和的現(xiàn)象。對于經(jīng)驗(yàn)不夠豐富的工程師,往往會(huì)忽略掉。電感飽和會(huì)讓電感值急劇下降,類似于短路了,這樣會(huì)造成電流的急劇增加,MOS管往往會(huì)因?yàn)闇囟鹊募眲≡黾佣鵁龤А_@時(shí)需要更換飽和電流更大的電感。
Shoot through測試
測試的目的是看上MOS管導(dǎo)通時(shí),有沒有同時(shí)把下管打開,從而導(dǎo)致電源直接導(dǎo)通到地而引起短路。如圖三所示藍(lán)色曲線(Vgs_Lmos)就是下管在上管導(dǎo)通的同時(shí),被帶了起來,如果藍(lán)色曲線的被帶起來的尖峰超過了MOS管的Vth要求,同時(shí)持續(xù)時(shí)間(Duration)也超過了datasheet要求,從而就會(huì)有同時(shí)導(dǎo)通的風(fēng)險(xiǎn)。當(dāng)然,這是大家最常見到的情況。
下面這種情況有非常多的人會(huì)忽視,甚至是一些比較有經(jīng)驗(yàn)的電源測試工程師。下面組圖四是下管打開,上管關(guān)閉時(shí)候的波形(圖4-1是示意圖,圖4-2示實(shí)際測試圖)。雖然沒有被同時(shí)帶起的情況,但是請注意上下管有交叉的現(xiàn)象,而且交叉點(diǎn)的電平遠(yuǎn)高于MOS管規(guī)定的Vth值,這是個(gè)嚴(yán)重的shoot through現(xiàn)象。最直接的后果就是MOS管燒毀!
相位裕量和帶寬 (phase margin and bandwidth)
相位裕量和帶寬是很多公司都沒有測試的項(xiàng)目(尤其是規(guī)模較小的公司受限于儀器),但是這卻是個(gè)非常重要的測試項(xiàng)目。電源系統(tǒng)是否穩(wěn)定,是否能長時(shí)間(3年或以上)有效工作,相位裕量和帶寬可以在很大程度上說起了決定性的作用。很多公司完全依賴于電源芯片廠家給的參考設(shè)計(jì)方案里的推薦值,但是跟你的設(shè)計(jì)往往有不小的差異,這樣會(huì)有很大的潛在風(fēng)險(xiǎn)。
如果系統(tǒng)是一個(gè)不穩(wěn)定的系統(tǒng),反映在一些電源測試項(xiàng)目里面,會(huì)看到以下幾個(gè)主要問題。
● 電源的Noise測試通過,但是電源依然不穩(wěn)定。表現(xiàn)為功能測試fail。常常有工程師在debug時(shí)說我的電源noise已經(jīng)很小了,加了很多電容了,為啥還是跑不動(dòng)呢?其實(shí)是他的閉環(huán)系統(tǒng)本來就不穩(wěn)定。
● Phase點(diǎn)jitter過大。這是比較典型的不穩(wěn)定現(xiàn)象。
● 瞬態(tài)響應(yīng)(Transient response)太大。最笨的辦法就是加很多電容,去滿足瞬態(tài)響應(yīng)的要求。對于低成本產(chǎn)品,這可是要錢的啊。
12下一頁全文
第 1 頁:工程師分享開關(guān)電源測試測量經(jīng)驗(yàn)
第 2 頁:電源紋波和噪聲
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