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應(yīng)對測試復(fù)雜度飆升,眾廠商積極重估傳統(tǒng)ICT方案

發(fā)布日期：2022-07-14 點擊率：54

案,是否仍然沿用著已經(jīng)過時的上世紀80年代的架構(gòu)？如果答案是肯定的,那么你就必須要認真對待下面這段話了——Checksum公司總裁兼首席執(zhí)行官John VanNewkirk不久前指出,自90年代以來,測試工程師所面臨的工作環(huán)境已經(jīng)發(fā)生了徹底的改變:今天他們必須在測試接觸點不斷下降的情況下盡可能的降低產(chǎn)品缺陷率,同時還要承受內(nèi)存密度提高,編程器件數(shù)量不斷飆升的壓力。“重估既有方案的價值正在變得日益迫切。”VanNewkirk說。

測試系統(tǒng)Analyst ems為例,只需傳統(tǒng)ICT的一部分價格即可達到同樣的復(fù)雜線路板測試覆蓋率。它提供雙層壓針功能,能確保功能測試中的電壓不會損害到測試器件,并留有空間以備其他功能測試需求,可測試線路板面積為,支持TestJet、邊界掃描和MultiWriter芯片編程,測試軟件在Windows XP系統(tǒng)中運行。

Agilent3070用戶推出的Analyst fcs測試系統(tǒng)。據(jù)稱,其不僅能夠與前者的夾具直接配套使用,更可接受1模、2模、4模的3070夾具,并支持安捷倫電源設(shè)備,無需改變夾具即可支持TestJet技術(shù),能夠利用3070已有的數(shù)據(jù)文件產(chǎn)生新的測試程序。


圖題:工程師們正在面臨前所未有的測試復(fù)雜度

測試系統(tǒng)分部副總裁兼總經(jīng)理麥成發(fā)指出,混合方案具有一定的局限性,而本土廠商的興起也有利于滿足亞洲市場多元化的需求。“我們把決定權(quán)交給客戶。”他表示。

作者:王彥


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