發布日期：2022-06-10 點擊率：29
【化工儀器網 行業百態】隨著科技的發展和進步，微米量級的器件尺寸對測試技術提出新的挑戰，亟需更高精密度、更高靈敏度的測試技術。此外，芯片制程正在從二維走向三維，精密的測量三維芯片的關鍵尺寸，是助力半導體行業發展的重要技術之一。三維測量，即以接觸或非接觸等方式對被測物進行全方位測量，確定被測物的三維坐標測量數據。三維測量的測量功能應包括尺寸精度、定位精度、幾何精度及輪廓精度等。
為推動精密測量技術應用，提高行業相關人員對三維測量儀器使用水平，化工儀器網聯合基恩士于2022年6月15日舉辦《精密測量技術在3C電子、半導體行業的應用》網絡課堂，并特別邀請了國家重點研發計劃項目首席楊樹明以及基恩士3D測量顯微系統3D輪廓測量技術工程師 王靖元兩位老師擔任課程講師。
講師介紹
楊樹明 西安交通大學教授
國家重點研發計劃項目首席，陜西省重點科技創新團隊帶頭人，西安交通大學重大科技創新團隊帶頭人；國際納米制造學會(ISNM)會士、亞洲精密工程與納米技術學會(ASPEN)理事、中國計量測試學會常務理事等。承擔國家及省部級重大重點項目30 余項，發表學術論文 150 多篇，授權/公開國際國內發明專利 80 多項，獲教育部科技進步一等獎、陜西省科學技術一等獎、中國機械工業科學技術一等獎、中國計量測試學會科技進步一等獎等 7 項；研究成果入選中國科協首屆“科創中國”先導技術榜單。在國際學術會議應邀做大會報告和特邀報告 30 余次，擔任 JMS、IJPEM-GT、IJRAT、NMME、MST、PE、IJAMT、Photonics 等國際權威期刊編委和客座編委等。
王靖元 基恩士3D測量顯微系統 3D輪廓測量技術工程師
現為基恩士3D測量顯微系統部門技術工程師，負責3D輪廓儀、形狀測量激光顯微系統的技術支持工作。在輪廓測量、平面度分析等方面有豐富經驗。
本期課程，兩位講師將分別以《半導體芯片檢測技術瓶頸及發展趨勢》和《非接觸式輪廓儀在3C電子行業的應用》為題，進行在線講座。課程內容圍繞半導體發展要點和精密測量在3C電子行業中的應用。全程干貨不容錯過！趕快報名吧！點此進入報名頁面
