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Hexagon Metrology高性能三維掃描探測系統LSP-X1

發布日期：2022-04-28 點擊率：48

產品介紹

新型的LSP-X1 掃描測頭，既能夠提供高精度測頭的精密計量工具，又能夠和TESASTAR-m 自動分度測座完美匹配。點到點和連續掃描兩種模式都能夠全面兼容，是中等尺寸的楞邊復雜型和曲面復雜型工件的理想檢測方案。LSP-X1具有兩種吸盤，并且可以支持長達220mm 以內的各種探針。吸盤的自動更換可以通過TESASTAR-r 自動更換架實現，也可以通過專門的支架僅僅更換探針。這種磁吸測頭系統能夠快速和高重復性的完成更換。

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詳細參數

  • 超長探針 
    允許探測工件內部的深孔等特征。包括自動重量平衡系統。 
     
  • 自動探針更換功能 
    在測量過程中執行自動探針更換，而不需要重新校準。探針的磁力吸盤保證了快速而精確的更換。
     
  • 具備碰撞保護功能
    在發生誤碰撞的情況下保護測座。使得測量系統的工作時間達到最大化，并降低了擁有成本。
真正的三維探測 
接觸工件表面時，測頭會自動沿著工件表面的法矢量進行測量。通過線性可變微分傳感器(LVDT)探測偏差，即使使用長的加長桿，也可以對探針的彎曲進行準確補償。這一特性減少了余弦誤差，確保了更高的測量精度和效率，這對檢測復雜幾何體如齒輪、轉子和葉片等是至關重要的。 

產品應用

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