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A/B 掃描高精密超聲波測(cè)厚儀PVX
A/B 掃描高精密超聲波測(cè)厚儀PVX
美國(guó)DAKOTA ULTRASonICS 公司PVX 高精密測(cè)厚儀有明顯優(yōu)點(diǎn):
- 可調(diào)方波脈沖可滿足高分辨率和穿透深度等方面的要求
- 具有多種視場(chǎng)選擇,包括射頻顯示、檢波、時(shí)基B-掃描和大尺寸數(shù)顯
- 時(shí)基B-掃描顯示被測(cè)材料的斷面,常用于顯示被測(cè)材料底面的輪廓
- 分辨率可調(diào)
- 可選配多種單晶探頭,應(yīng)用于不
同的用途
- 內(nèi)置AGC 硬件的增益用于多回波和穿透涂層測(cè)量
- 一點(diǎn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)方式,或從材料列表中選擇聲速
- 6 個(gè)出廠設(shè)置和48 個(gè)用戶自定義設(shè)置
- 具有字母數(shù)字存儲(chǔ)器,可滿足用戶報(bào)告需要
- 高速掃描功能每秒可測(cè)量32 次。將探頭從被測(cè)材料移開時(shí),將顯示掃描測(cè)量的最小值
- 具有上下限視聽報(bào)警功能
- 利用搜索功能定位檢測(cè)點(diǎn),自動(dòng)調(diào)整顯示傳送信號(hào)進(jìn)入視場(chǎng)
- 用Windows PC 軟件將數(shù)據(jù)傳送的計(jì)算機(jī)或從計(jì)算機(jī)傳送到PVX
A/B 掃描高精密超聲波測(cè)厚儀PVX
A/B 掃描高精密超聲波測(cè)厚儀PVX