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A/B 掃描超聲波測厚儀MVX

A/B 掃描超聲波測厚儀MVX

美國DAKOTA ULTRASonICS 公司MVX測厚儀有明顯優(yōu)點

- 可調(diào)方波脈沖可滿足高分辨率和穿透深度等方面的要求

- MVX 具有多種視場選擇，包括射頻顯示、檢波、時基B-掃描和大尺寸數(shù)顯

- A-掃描檢波模式是在脈沖回波模式中檢測缺陷/孔洞和在回波-回波模式中穿透涂層進行測量的模式

- MVX 的時基B-掃描顯示被測材料的斷面，常用于顯示被測材料底面的輪廓

- 多模式操作時內(nèi)置AGC 硬件的增益控制用于穿透涂層的測量

- 多種標定選件是MVX 多方面適應性的例子

- MVX 可存儲64 個用戶定義的設置，所有設置都可以選擇、編輯、存儲到任何位置

- MVX 有字母數(shù)據(jù)存儲器，以滿足用戶報告的要求

- 內(nèi)置探頭類型可提高探頭的線性

- 高速掃描功能每秒可測量32 次。將探頭從被測材料移開時，將顯示掃描測量的最小值

- MVX 具有上下限視聽報警功能

- 利用搜索功能定位檢測點，自動調(diào)整顯示傳送信號進入視場

- 可用Windows PC 軟件將數(shù)據(jù)傳送的

A/B 掃描超聲波測厚儀MVX

A/B 掃描超聲波測厚儀MVX