A/B 掃描超聲波測厚儀MVX
A/B 掃描超聲波測厚儀MVX
美國DAKOTA ULTRASonICS 公司MVX測厚儀有明顯優點
- 可調方波脈沖可滿足高分辨率和穿透深度等方面的要求
- MVX 具有多種視場選擇，包括射頻顯示、檢波、時基B-掃描和大尺寸數顯
- A-掃描檢波模式是在脈沖回波模式中檢測缺陷/孔洞和在回波-回波模式中穿透涂層進行測量的模式
- MVX 的時基B-掃描顯示被測材料的斷面，常用于顯示被測材料底面的輪廓
- 多模式操作時內置AGC 硬件的增益控制用于穿透涂層的測量
- 多種標定選件是MVX 多方面適應性的例子
- MVX 可存儲64 個用戶定義的設置，所有設置都可以選擇、編輯、存儲到任何位置
- MVX 有字母數據存儲器，以滿足用戶報告的要求
- 內置探頭類型可提高探頭的線性
- 高速掃描功能每秒可測量32 次。將探頭從被測材料移開時，將顯示掃描測量的最小值
- MVX 具有上下限視聽報警功能
- 利用搜索功能定位檢測點，自動調整顯示傳送信號進入視場
- 可用Windows PC 軟件將數據傳送的
A/B 掃描超聲波測厚儀MVX
A/B 掃描超聲波測厚儀MVX
